NH2332
Microscopia Eletrônica

Ementa

Noções de óptica eletrônica. Lentes magnéticas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET): fonte de elétrons; sistema de iluminação; sistema de formação da imagem; aberrações de lentes; poder de resolução e profundidade de campo e foco; formação do diagrama de difração e da imagem. Microscópio eletrônico de varredura (MEV): sistema óptico-eletrônico; interação feixe-amostra. Formação de imagens no microscópio eletrônico de transmissão. Microanálise: descrição do método; espectro característico de emissão de raios-X; espectroscopia por dispersão de energia (EDS) e por dispersão de comprimento de onda (WDS); microanálise por raios-X em MET e MEV; microanálise por perda de energia de elétrons (EELS). Aulas práticas de preparação de amostras e observações experimentais nos microscópios eletrônicos.

Bibliografia Básica

C.E. Hall - Introduction to Electron Microscopy. McGraw-Hill Book Co., New York, 1966.
O.C. Wells - Scanning Electron Microscopy. McGraw Hill Book Co., New York, 1974.
L.M. Reimer - Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer-Verlag, 1984.

Bibliografia Complementar

M.A. Hirsch et al - Electron Microscopy of Thin Crystals. Butterworths, London, 1985.
D.E. Newburry et al – Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Plenum Press, Second Edition, New York, 1987.
D.B. William e C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science
B.Fultz e J. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Tipo