Introdução à metrologia e Controle Estatístico do Processo (CEP); definição do metro padrão; critério de seleção; fontes de erro; calibradores; instrumento de medição: paquímetro, micrômetro, relógio comparador, relógio apalpador, aferição e conservação dos instrumentos.
Bibliografia Básica
ALBERTAZZI, A. Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial. Barueri: Manole, 2008. ISBN: 9788520421161
SCHIMIDT, W. Metrologia Aplicada. São Paulo: EPSE, 2003. ISBN: 8589705013
LIRA, A.F. Metrologia na Indústria. São Paulo: Érica, 2001. ISBN: 857194783X
Bibliografia Complementar
LBERTAZZI, A. Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial. Barueri: Manole, 2008. ISBN: 9788520421161
SCHIMIDT, W. Metrologia Aplicada. São Paulo: EPSE, 2003. ISBN: 8589705013
LIRA, A.F. Metrologia na Indústria. São Paulo: Érica, 2001. ISBN: 857194783X