E N G E N H A R I A A E R O E S P A C I A L
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Modelagem e Ciências Sociais Aplicadas
EN2820
Caracterização de Materiais
T P I = 2 2 4Recomendação
Propriedades Mecânicas e Térmicas; Propriedades Elétricas Magnéticas e Ópticas
Ementa
Técnicas de caracterização da composição de elementos (Espectroscopia atômica, espectroscopia de massa) Técnicas de caracterização estrutural (métodos de difração de raios-X e difração de elétrons, microscopia), Análise térmica, Técnicas de espectroscopia óptica e vibracional (espectroscopia na região do UV-vis e infravermelho, Fotoluminescência, elipsometria, Raman).
Bibliografia Básica
SKOOG, DA; HOLLER, FJ; NIEMAN, Timothy A.. Princípios de análise instrumental. 5 ed.. Porto Alegre: Bookman, (2002).
BRANDON, DG; KAPLAN, WD. Microstructural characterization of materials. Chichester: John Wiley (1999).
KAUFMANN, Elton N. Characterization of Materials. Hoboken, NJ: John Wiley& sons (2003) – Vol1 e 2
Bibliografia Complementar
C.R. BRUNDLE; EVANS Jr, C. R.; WILSON S. Encyclopedia of Materials Characterization. Butterworth-Heinemann, 1992
CANEVAROLO JR, S., Tecnicas de caracterizacao de polimeros, Sao Paulo, Artliber, 2003.
WILLIAMS, D.B., CARTER, C.B. Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4 volumes). 1a edicao, Springer, 2004.
CULLITY, B. D.,Stock, S.R., Elements of X-Ray Diffraction, 3a edicao, Pearson Education Internat., 2001.
GOLDSTEIN, J. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. 3rd Edition. Springer; 2003.
Tipo
Livre